Kioxia Corporation, líder mundial em soluções de memória, e a MoDeCH Inc., líder em desenvolvimento de tecnologia de modelagem e design, anunciaram o desenvolvimento de um sistema de sondagem pioneiro no setor para a medição de características de alta frequência para objetos tridimensionais (3D) de até 110 GHz na Conferência Europeia de Micro-ondas (EuMC), realizada em 26 de setembro1.
Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20240926744568/pt/